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在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展

在高級制造與精密檢測領(lǐng)域，國產(chǎn)共聚焦顯微鏡正憑借其突破性的技術(shù)原理和強(qiáng)大的核心功能，成為材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵檢測工具。這項源自光學(xué)成像革命的技術(shù)，通過獨(dú)特的點(diǎn)照明與三維重建機(jī)制，實現(xiàn)了微觀世界的納米級觀測。一、核心技術(shù)原理：突破傳統(tǒng)成像局限國產(chǎn)共聚焦顯微鏡采用"光學(xué)切...

2025 10-25

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202312-13
MS測量顯微鏡在IC芯片引腳缺陷檢測應(yīng)用
在芯片制造過程中，芯片引腳扮演著連接內(nèi)部電路與外部電路的重要角色，相當(dāng)于芯片的接口。然而在芯片制造過程中，如果引腳出現(xiàn)缺失、破損、偏斜或不平整，容易導(dǎo)致后續(xù)貼片焊接時出現(xiàn)虛焊、虛接或漏接的問題，進(jìn)而影響芯片的可靠性。芯片引腳缺陷檢測通常涉及測量和評估多個指標(biāo)，如檢測引腳外觀、測量引腳寬度、高度差等，通過綜合評估這些參數(shù)，能夠及時發(fā)現(xiàn)潛在的問題并提供預(yù)警，以確保芯片制造的質(zhì)量和可靠性。如何在芯片快速傳輸?shù)倪^程中，高效準(zhǔn)確地對引腳缺陷進(jìn)行非接觸式測量分析，是芯片廠商亟待解決的問題...
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